一、KX-150型超聲波測厚儀概述：

KX-150超聲波測厚儀是智能型，采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù)，基于超聲波測量原理，可以測量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測量?？梢詫?duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測，監(jiān)測它們?cè)谑褂眠^程中受腐蝕后的減薄程度，也可以對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測量。本儀器可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。

二、KX-150型技術(shù)參數(shù)：

顯示方法：高對(duì)比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；
測量范圍：0.75～300mm（鋼中），公制與英制可選擇；
聲速范圍：1000~9999m/s：
分辨率：0.1mm
示值精度：±（0.5%H+0.04）mmH為被測物實(shí)際厚度
測量周期：單點(diǎn)測量時(shí)4次/秒、掃描模式10次/秒；
存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)20組（每組zui多99個(gè)測量值）厚度測量數(shù)據(jù)。
工作電壓：3V（2節(jié)AA尺寸堿性電池串聯(lián)）
持續(xù)工作時(shí)間：約100小時(shí)（不開背光時(shí)）
外形尺寸：150×74×32mm
整機(jī)重量：245g

三、KX-150型主要功能：

適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度；
可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用；
具有探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能,可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行自動(dòng)修正；
已知厚度可以反測聲速，以提高測量精度；
具有耦合狀態(tài)提示功能；
有EL背光顯示，方便在光線昏暗環(huán)境中使用；
有剩余電量指示功能，可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量；
具有自動(dòng)休眠、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能；
小巧、便攜、可靠性高，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾。

四、KX-150型超聲測厚儀儀器配置：
表1儀器配置

表2探頭選擇